Sistemele digitale reprezinta circuite digitale complexe. Testarea propiu-zisa a unui sistem digital este un experiment care are in cele mai frecvente cazuri doua scopuri: Complexitatea actuala, atat structurala cat si functionala, a tuturor echipamentelor electronice (de calcul, industriale, etc. ), completata cu exigente de fiabilitate din ce in ce mai mari, a determinat implicarea testarii automate in toate fazele de productie a acestor echipamente.
Cand se lucreaza in domeniul proiectarii sistemelor cu un grad de testabilitate si implicit de fiabilitate ridicata nu se pot evita termenii: defect, eroare, defectare. Exista o relatie de tip cauza-efect intre acesti termeni. Defectele sunt cauzele erorilor, erorile sunt cauzele defectiunilor.
Defectul este o imperfectiune fizica sau logica care apare in cadrul unei componente hardware sau software. Ca exemple de tip fizic pot fi amintite scurtcircuitele si intreruperile traseelor electrice, intreruperi sau imperfectiuni in structurile semiconductoare, etc. Ca defect software poate fi amintita o bucla de program din care nu se mai poate iesi. Eroarea este manifestarea defectului si reprezinta o deviatie de la corectitudinea si acuratetea de executie a functiilor. De exemplu datorita unei atingeri fizice a doua trasee, o linie de date este blocata in 0 logic.
Daca functionarea circuitului impune trecerea in 1 logic, evident, va apare o eroare.
Erorile conduc la executarea incorecta uneia sau mai multor dintre functiile sistemului si in consecinta la caderea acestuia sau funtionarea lui defectuoasa.
Defectiunea sau functionarea defectuoasa, reprezinta executarea unei functii sau a unui set de functii sub standardele prevazute din punct de vedere calitativ sau cantitativ. Aceste trei aspecte le putem asimila trei zone bine delimitate.
Prima zona este cea fizica in care apar defectele. Ea include componentele si dispozitivile semiconductoare, elemente mecanice, sursele de alimentare si altele elemente care compun un sistem. O a doua zona este cea informationala in care se manifesta erorile. Erorile afecteaza unitati de informatie cum ar fi octetii de date dintr-un sistem cu microprocesor. Erorile specifice acestei zone informationale includ erorile de paritate, mesajele de eroare, bitii eronati. A treia zona este denumita a utilizatorului in care acesta sesizeaza efectele erorilor aparute. Aici se materializeaza defectiunile si apar devieri de la comportamentul dorit sau asteptat al sistemului.
Aceste relatii de tip cauza-efect conduc la alti termeni: latenta defectului si latenta erorii.
Latenta defectului reprezinta intervalul de timp intre aparitia defectului si momentul aparitiei erorii datorate acelui defect.
Un defect latent este un defect care a aparut in sistem, dar nu a produs inca o eroare, adica nu a aparut inca efectul lui. La fel se defineste si latenta erorii ca timpul scurs de la apritia erorii pana la manifestarea caderii sistemului.
Utilizand modelul celor trei zone, se deduce ca ...
DAMIAN IMBREA - "TESTAREA SI TESTABILITATEA SISTEMELOR DIGITALE" - EDITURA "VIE", IASI, 2002
K. C. CHANG - "DIGITAL SYSTEMS DESIGN WITH VHDL AND SYNTHESIS" - IEEE, 1999
D. PITICA, MIHAELA RADU - "ELEMENTE DE TESTARE PENTRU SISTEME ELECTRONICE"
DANUT BURDIA, GABRIEL STEFAN POPESCU - "PROIECTARE ASISTATA DE CALCULATOR A CIRCUITELOR ELECTRONICE" - EDITURA MATRIX ROM, BUCURESTI, 1999
MIRON ABRAMOVICI, MELVIN BREUER, ARTHUR D. FRIEDMAN - "DIGITAL SYSTEMS TESTING AND TESTABLE DESIGN" - COMPUTER SCIENCE PRESS, 1990
DESIGN COMPILER USER GUIDE, SYNOPSYS, 2000
DESIGN COMPILER TUTORIAL, SYNOPSYS, 2000
MODELSIM BOOKCASE, MODEL TECHNOLOGY INCORPORATED, 1999 - 2001
CHIP SYNTHESIS WORKSHOP, SYNOPSYS, 1998
Pentru a descărca acest document,
trebuie să te autentifici in contul tău.
