Studiul defectelor în circuite digitale

Previzualizare licența:

Cuprins licența:

1 INTRODUCERE
2 IPOTEZE SIMPLIFICATOARE PENTRU OBTINEREA TESTELOR
2.1 OBIECTIVE URMARITE LA TESTAREA CIRCUITELOR
2.2 DEFECTELE IN CIRCUITE DIGITALE
2.3 CLASIFICAREA GENERALA A DEFECTELOR DINTR-UN CIRCUIT
2.4 DEFECTE LOGICE
3 CLASE DE DEFECTE LOGICE
3.1 DEFECTE DE CONECTARE
3.2 DEFECTE DE SCURTCIRCUIT
3.3 DEFECTE DE INTERSCHIMBARE
4 CONCEPTE SI CONVENTII
4.1 INDICIEREA VECTORILOR DETERMINATI
4.2 DIFERENTA (DIFERENTIALA) BOOLEEANA
4.3 NOTIUNI GENERALE PRIVIND GENERAREA TESTELOR
4.4 STUDII ASUPRA DEFECTELOR IN CIRCUITE DIGITALE
4.4.1 EFECTELE DEFECTELOR LOGICE SIMPLE
4.4.2 ECUATIA DE TEST PENTRU DEFECTE SIMPLE
4.4.3 EFECTELE DEFECTELOR LOGICE MULTIPLE
4.4.4 FUNCTIA DE TEST PENTRU DEFECTE MULTIPLE
4.4.5 FUNCTIILE DE TEST PENTRU DEFECTE DE CONECTARE
4.4.6 GENERALIZARI
4.4.6.1 CIRCUITE CU MAI MULTE VARIABILE DE IESIRE
4.4.6.2 DEFECTE IN VARIABILE RAMIFICATE
4.5 RELATII INTRE DEFECTE IN CIRCUITE COMBINATIONALE
4.5.1 RELATIILE DE DE ECHIVALENTA SI DE IMPLICATIE INTRE DEFECTE
4.5.2 ECHIVALENTA SI IMPLICATIA STRUCTURALA A DEFECTELOR IN CIRCUITELE COMBINATIONALE
4.5.2.1 DIFERENTA BOOLEEANA LA VARIABILELE DE BAZA SI LA VARIABILELE DE RAMURA
4.5.2.2 RELATII DETERMINATE DE STRUCTURA INTRE DEFECTELE DE CONECTARE DIN CIRCUITE COMBINATIONALE ARBORESCENTE

Extras din licența:

In realizarea echipamentelor electronice complexe folosite azi in industrie si cercetare, mai cu seama a sistemelor de calcul, cerintele privind asigurarea unei fiabilitati cat mai inalte cresc in mod spectaculos. Aceste cerinte sunt cu atat mai stringente la computerele care opereaza in timp real sau cu diviziune in timp. In acest context, testarea functionarii corecte care trebuie facuta dupa tehnici riguros precizate, se individualizeaza tot mai mult ca o activitate cu mare pondere in intretinerea sistemelor.

Odata insa cu cresterea continua a complexitatii circuitelor, creste aproximativ liniar cu aceasta si complexitatea masuratorilor necesare testarii functionarii corecte.

De asemeni, efortul de testare creste exponential cu numarul de intrari si de iesiri ale subansamblului studiat.

In aceste conditii, apare ca vitala asigurarea unei eficiente deosebite a muncii de testare, care, in caz contrar, poate intrece volumul de mijloace financiare si de timp cerut de realizarea intregului produs.

De aceea, deosebit de important este sa se ia in consideratie, inca din faza de proiectare a circuitelor, si testabilitatea acestora. Testabilitatea trebuie gandita ca un efort concentrat de asigurare a unei eficiente maxime pe parcursul intregului ciclu de viata al produsului, din faza conceptiei si proiectarii, trecand prin productie, pana la service-ul din timpul exploatarii.

In termeni cantitativi, testabilitatea este definita ca masura usurintei ce care se pot scrie si executa programe de testare comprehensive, ca si a facilitatilor in izolarea componentelor, subansamblurilor si sistemelor defecte.

Testabilitatea produsului trebuie prevazuta din faza de proiectare; de aceea, testabilitatea trebuie privita ca parte a specificatiilor functionale pe care sistemul proiectat trebuie sa le respecte. Inaintea acceptarii proiectarii fiecarui sistem, trebuie prevazute modalitatile de testare a sa in timpul fazelor proiectarii, in productie si in campul de aplicatie al produsului.

Din observatiile expuse mai sus rezulta principalele avantaje ale proiectarii cand se tine cont de necesitatea testabilitatii: reducerea efortului proiectului de urmarire a asimilarii in fabricatie a produsului; scaderea costurilor totale de fabricatie si cresterea beneficiilor; optimizarea transferului de informatie dintre personalul din proiectare si cel din productie (testare); scaderea loturilor initiale si de-a lungul ciclului de viata, avand ca urmare sporirea vanzarilor; scaderea timpilor de testare si reducerea intarzierilor in productie; sporirea puternica a productivitatii muncii de service, deoarece diagnoza si depanarea devin mult mai eficiente.

Lucrarea de fata studiaza obtinerea algoritmilor de testare a circuitelor logice combinationale si unele abordari ale testarii circuitelor logice secventiale.

De asemenea, pentru ca gestionarea manuala a testelor este foarte dificila la circuitele complexe sau duce la seturi de teste de slaba calitate, se vor studia tehnici de ...

Descarcă licența

Pentru a descărca acest document,
trebuie să te autentifici in contul tău.

Structură de fișiere:
  • Studiul defectelor in circuite digitale
    • Cuprins.doc
    • Diploma.doc
Alte informații:
Tipuri fișiere:
doc
Diacritice:
Da
Nota:
7/10 (2 voturi)
Anul redactarii:
2008
Nr fișiere:
2 fisiere
Pagini (total):
46 pagini
Imagini extrase:
44 imagini
Nr cuvinte:
9 334 cuvinte
Nr caractere:
52 414 caractere
Marime:
219.83KB (arhivat)
Publicat de:
Anonymous A.
Nivel studiu:
Facultate
Tip document:
Licența
Domeniu:
Alte domenii
Predat:
la facultate din Bucuresti
Materie:
Alte domenii
Sus!